一种1024通道,1Gpbs速率集成电路综合系统的设计与实现  

作　　者：刘金海 何栋梁 

机构地区：[1]南京国睿安泰信科技股份有限公司

出　　处：《电子世界》2020年第11期137-138,共2页Electronics World

基　　金：国家重点研发计划资助(项目编号:2017YFF0106800)。

摘　　要：本测试系统开发基于标准总线RapidIO的开放式结构,系统集有1024通道、1Gbps速率的高速数字信号,16路高速高精度的模拟信号;全面简述了系统软件的模块化架构和开发、生产应用、维护管理相关业务流程。集成电路综合测试仪从最初的单品种测试设备发展到混合电路测试设备,测试速率从数十兆发展到数千兆,模块通道数从几十通道发展到数千通道,测试功能越来越复杂,单管脚测试成本愈加降低,为集成电路的发展提供了可靠保障。目前该领域的先进技术基本掌握在美国、日本等集成电路产业发达国家的仪器厂商手中,代表产品有日本爱德万(Advantest)的V93000、T2000和泰瑞达(Teradyne)UltraFLEX。

关 键 词：开放式结构 标准总线 模拟信号 集成电路 综合测试仪 测试设备 混合电路 测试功能 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]