一种双相位中心测高频率扫描天线  

作　　者：赵继明[1] 李运志[1] 胡卫东[1] 金秀梅[1] 

机构地区：[1]安徽四创电子股份有限公司

出　　处：《电子世界》2020年第15期25-26,共2页Electronics World

摘　　要：本文设计研制了一种利用单基线相位干涉仪的组成原理,采用两个单相位中心频率扫描天线组成了双相位中心测高频率扫描天线,该天线工作于Ku波段,具备优良的方位面频扫特性和俯仰面测高功能。通过对天线实物的测试,该天线可以实现方位面±45°宽角扫描,俯仰向超过30°的角度测量范围,方位面副瓣优于-20d B。

关 键 词：宽角扫描 频率扫描天线 测高 相位干涉仪 KU波段 角度测量 相位中心 副瓣 

分 类 号：TN8[电子电信—信息与通信工程]