基于STM32F103的多通道光测试系统的设计  

作　　者：严建平 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第三十四研究所

出　　处：《广东通信技术》2020年第9期70-74,共5页Guangdong Communication Technology

基　　金：广西创新驱动发展专项(科技重大专项):光通信核心光电组件研发及产业化应用示范项目资助。

摘　　要：介绍一套基于单片机STM32F103的多通道光测试系统的设计方案及实现电路。系统能快速对光偏振相关损耗(PDL)、光插入损耗(IL)、光回波损耗(RL)进行测试,并输出1270、1310、1490、1550、1625 nm五个波长的光源,通过以太网连接电脑界面软件实现半自动测试。各项测试的数据形成报表供打印或储存。

关 键 词：多通道 偏振相关损耗 插入损耗 回波损耗 光源 

分 类 号：TN929.1[电子电信—通信与信息系统] TP368.1[电子电信—信息与通信工程]