利用测试解决方案解决汽车芯片中的功能安全性问题  

作　　者：无 

机构地区：[1]新思科技

出　　处：《中国集成电路》2020年第9期78-81,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：随着汽车中半导体的平均数量快速增长,预计汽车芯片的销售量将会持续上升。汽车芯片设计人员必须利用各种各样来自内部工程师及外部供应商的底层IP(PVT传感器、PLL、嵌入式存储器、数字逻辑模块以及复合接口IP)来满足与片上系统(SoC)的功能安全性、可靠性和质量相关的标准。

关 键 词：嵌入式存储器 测试解决方案 逻辑模块 安全性问题 芯片设计 外部供应商 半导体 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]