检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张仁军 李波 杨海军 胡志强 Zhang Renjun;Li Bo;Yang Haijun;Hu Zhiqiang
机构地区:[1]四川英创力电子科技股份有限公司,四川遂宁629000
出 处:《印制电路信息》2020年第9期34-38,共5页Printed Circuit Information
摘 要:文章浅析的缺陷主要围绕我公司(一铜与二铜流程)之孔内空洞的几个大类进行分析与探讨。所谓孔内无铜,即导通孔内局部孔破或环状孔破,而现有传统的电测法对部分孔无铜难以检测,如漏至客户处将有潜在的风险。In this paper,several categories of holes in a company(electroless copper and graphics electroplating)are mainly analyzed and discussed.The main phenomenon of copper-free hole is local hole-breaking or ring holebreaking.The existing electrical testing methods cannot achieve 100%detection of this problem.If the defective product is leaked to the customer,there will be a big quality hazard.
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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