硅异质结太阳电池的电学性能测试研究  

Research on Electrical Performance Measurement of Silicon Heterojunction Solar Cells

作　　者：时强 张雅婷[1] 余友林 刘正新[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所

出　　处：《信息技术与标准化》2020年第9期49-53,共5页Information Technology & Standardization

基　　金：上海张江国家自主创新示范区专项发展资金,项目编号:ZJ2018-ZD-010;上海市科学技术委员会“双面发电太阳电池标定及检测技术研究”项目,项目编号:(17DZ1201100)。

摘　　要：为了更精确地测量硅异质结太阳电池的电性能参数,研究了有无偏置光对相对光谱响应测试的影响,分析了不同扫描时间、扫描方向、探针排遮挡、太阳电池测试台背面反射率等因素对测试的影响,确立了合理的硅异质结太阳电池的测试方法,对提高硅异质结电池测试准确度与精度提供了参考意义。For accurate measurement of HJT solar cells,in this paper,the influences of the relative spectral response test with and without bias light are studied.The sweep time and direction,probe shading and the reflectance of measurement stage are analyzed.A reasonable HJT solar cells measurement method is established,which provides some reference for improving the measurement accuracy of HJT solar cells.

关 键 词：硅异质结太阳电池 Ⅰ-Ⅴ曲线 校准 标准测试条件 

分 类 号：TM914.4[电气工程—电力电子与电力传动]