检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陈婷
机构地区:[1]西安紫光国芯半导体有限公司
出 处:《中国集成电路》2020年第11期37-40,共4页China lntegrated Circuit
摘 要:每个芯片都包括ESD(Electro-Static discharge)保护模块和对应的功能模块,如何在复杂的ESD事件中,提前预测节点是否会被ESD冲击损坏,对于优化ESD保护方案和电源网络非常有意义。本文针对现有技术中存在的问题,提供一种芯片ESD保护电路的仿真电路和方法,通过仿真能够提前找到芯片中抗ESD能力差的器件,并优化电路,提高芯片抗ESD的能力。
分 类 号:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]
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