检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:邱忆 周钲洋 孙俊良[1] Yi Qiu;Zhengyang Zhou;Junliang Sun(College of Chemistry and Molecular Engineering,Peking University,Beijing 100871,China)
机构地区:[1]北京大学化学与分子工程学院,北京100871
出 处:《中国科学:化学》2020年第10期1384-1397,共14页SCIENTIA SINICA Chimica
基 金:国家自然科学基金(编号:21527803,21871009)资助项目。
摘 要:电子衍射技术是解析晶体结构的基本手段之一,随着透射电子显微镜硬件设施的不断改善以及结构解析方法的发展,电子衍射在探究材料构效关系领域发挥着越来越重要的作用.本文主要介绍了本课题组在利用电子衍射解析结构方面的工作,以及国内外关于电子衍射技术发展的最新进展和展望.本课题组利用选区电子衍射及三维电子衍射技术,结合粉末X射线衍射、单晶X射线衍射、高分辨电子显微镜等表征手段,解析了许多复杂的晶体结构,包括无机功能材料、分子筛、共价有机框架材料等.Electron diffraction is one of the basic techniques to study crystal structures. With the improvement of the transmission electron microscope hardware facilities and the development of structural analysis methods, electron diffraction plays an increasingly important role in exploring the relationship between the material structures and their physical properties. In this review, the progress of crystal structure determination using electron diffraction was mainly discussed. Our group has analyzed many complex crystal structures including inorganic functional materials, zeolites and covalent organic framework materials, utilizing selected area electron diffraction and three-dimensional electron diffraction technology combined with powder X-ray diffraction, single crystal X-ray diffraction, high-resolution electron microscopy and other characterization methods.
分 类 号:TB30[一般工业技术—材料科学与工程] O731[理学—晶体学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.28