数字电子电路测试技术分析  

作　　者：周晓芬 

机构地区：[1]甘肃省广播电视学校

出　　处：《中国新通信》2020年第19期59-60,共2页China New Telecommunications

摘　　要：科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化。本文主要对当前的数字电子电路测试技术进行研究和分析。

关 键 词：数字电子电路 测试技术 

分 类 号：TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学]