一种基于V93000的高速缓冲器测试方法  

A High Speed Buffer Test Based on V93000

作　　者：张一圣 武新郑 张兴 Zhang Yi-sheng;Wu Xin-zheng;Zhang Xing(China Key System&Integrated Circuit Co.,Ltd.,Jiangsu Wuxi 214035)

机构地区：[1]中国电子科技集团中科芯集成电路有限公司(58研究所)检测事业部,江苏无锡214035 [2]中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214035

出　　处：《电子质量》2020年第11期26-29,共4页Electronics Quality

摘　　要：普通的缓冲器芯片频率大多只有1~20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展。这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求。该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法。The frequency of common buffer chips is only 1~20MHz,but with the continuous development of science and technology,buffer chips are developing in the direction of high speed.This also puts forward new requirements for IC testing to ensure chip quality.Taking the SN74LVC2T45 of TI company as an example,the maximum frequency of the chip can reach 210MHz.Aiming at the three directions of function test,partial DC test and AC test,this paper introduces a test method of high speed buffer based on V93000 tester.

关 键 词：高速缓冲器 V93000 ATE测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TN79