一种基于单片机的测试系统设计  

作　　者：蔡建荣[1] 邱忠文[1] 吴兆希 赵茂霖 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆市400060

出　　处：《电子技术与软件工程》2020年第13期89-90,共2页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：本文介绍了一种运用STC单片机来控制继电器阵列,从而实现对多个分立器件或含有多个重复单元的小型集成电路进行测试的测试系统,文中阐述了该系统的组成结构和构建方法,并较为详细的说明了器件的参数的测试原理和测试过程,对解决类似分立器件或集成电路的测试问题解决有较为实用的意义。

关 键 词：STC单片机 分立器件 测试系统 继电器阵列 集成电路 重复单元 测试过程 构建方法 

分 类 号：TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TN407[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]