数字集成电路测试系统的分析与应用  

作　　者：王宇实 

机构地区：[1]电子科技大学,四川省成都市611731

出　　处：《电子技术与软件工程》2020年第23期75-76,共2页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：本文重点针对数字集成电路测试系统应用情况进行了分析,首先阐述了数字集成电路测试系统的基本构成情况;然后重点针对数字集成电路测试系统测试技术进行了研究,主要是从直流以及功能参数着手进行探讨的,关于直流参数测试进行分析时又划分为了接触、漏电电流、输出电压、电源消耗测试;最后探讨数字集成电路测试系统具体的应用情况,进而表明此技术的广泛应用所带来的价值是非常可观的,将数字集成电路测试系统相关的技术融入到各个领域,尽可能的将其优势充分发挥,有利于助推我国不同领域的发展,为创新性产品的设计与制造提供了条件。

关 键 词：数字集成电路测试系统 基本构成 直流参数测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]