微波暗室的剩余互调测量初探  

作　　者：朱辉 

机构地区：[1]不详

出　　处：《中国无线电》2021年第1期31-34,共4页China Radio

摘　　要：0引言:为什么要测量微波暗室的剩余互调微波暗室分为全电波暗室和半电波暗室。全电波暗室定义为六面装有吸波材料的屏蔽室,用于模拟自由空间;半电波暗室则是五面装有吸波材料,地面为反射面,用于模拟开阔场。常见的微波暗室的墙体由铁氧体材料加微波吸波材料组成。和其他无源器件一样,微波暗室也遵循互调产生的机理。在大功率多载频的作用下,微波暗室的墙体(铁氧体和吸波材料)会产生互调。在天线的无源互调测试中,如果微波暗室自身的互调大于被测天线的互调或能与之相比拟,则会影响天线互调的测试精度。因此,我们将微波暗室(为天线互调测量提供环境)自身的无源互调产物称为剩余互调。

关 键 词：微波暗室 半电波暗室 全电波暗室 无源器件 互调 屏蔽室 开阔场 吸波材料 

分 类 号：TN820[电子电信—信息与通信工程]