基于CT探测器核心部件的可靠性试验研究  

作　　者：邵建文[1] 张昕[1] 骆蕾[1] 程中州 杨仁明[1] 陈习[1] 赵存彬 

机构地区：[1]浙江省计量科学研究院

出　　处：《中国计量》2021年第1期87-93,共7页China Metrology

摘　　要：国产化CT探测器的可靠性水平决定其核心竞争力。采用基于过程信息的可靠性综合评价方法开展探测器核心部件的可靠性提升研究,通过开展高加速寿命试验,对样品系统施加步进应力快速获得样品环境应力承受极限和设计缺陷,可为产品设计改进提供有效数据支撑和方向指导;同时开展了可靠性鉴定与验收方法研究,选取影响探测器核心部件工作的主要应力,通过加速寿命试验来鉴定与验收其可靠性水平即平均无故障工作时间。研究避免了寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点,可大大缩短试验时间,在短期内为探测器改进设计提供全过程技术支持,有效提高产品的可靠性水平并降低试验生产周期。

关 键 词：高加速寿命试验 可靠性鉴定与验收 CT探测器 

分 类 号：TB114.3[理学—概率论与数理统计]