某型武器贮存失效机理研究  

Study on Storage Failure Mechanism of a Certain Type of Weapon

作　　者：方惠龙 胡平[2] 刘凯[2] FANG Huilong;HU Ping;LIU Kai(No.92555 Troops of PLA,Shanghai 200439;College of Naval Architecture and Ocean Engineering,Naval University of Engineering,Wuhan 430033)

机构地区：[1]92555部队,上海200439 [2]海军工程大学舰船与海洋学院,武汉430033

出　　处：《舰船电子工程》2021年第2期132-134,共3页Ship Electronic Engineering

基　　金：湖北省自然科学基金项目(编号:2018CFC866)资助。

摘　　要：通过历史数据分析,确定了某型武器主要的贮存失效模式包括参数漂移、松脱断裂、磨损磨蚀、电路故障、密封失效、绝缘失效、腐蚀锈蚀、过热烧蚀和机械变形,并针对这些失效模式的失效机理进行了深入分析。Through the analysis of historical data,the main failure modes of a certain type of weapon are determined,includ⁃ing parameter drift,loose fracture,wear and tear,circuit failure,seal failure,insulation failure,corrosion and rust,overheat abla⁃tion and mechanical deformation.The failure mechanism of these failure modes is analyzed.

关 键 词：武器 失效模式 失效机理 分析 

分 类 号：E92[军事—军事装备学]