电子产品寿命模拟中MTTF系统测算法  

System test algorithm of MTTF in electronic product life simulation

作　　者：胡志山 

机构地区：[1]伟龙意程智能科技(江苏)有限公司,江苏东台224200

出　　处：《电子产品世界》2021年第3期53-56,共4页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：根据多年工作经验借鉴中外企业先进做法和相关标准,推导出经验公式,结合试验数据,计算产品的MTTF、FIT值以及年索赔率等参数,能够有效地模拟产品的生命周期以及测算出工厂的早期老化时间,为产品在大批量投产前提供可靠性的量化依据。[1]

关 键 词：电子产品寿命 MTTF FIT 故障率 失效 

分 类 号：TN03[电子电信—物理电子学]