单孔阻值测量在高低温冲击试验中的应用  

Application of single-hole resistance measurement in thermal shock testing

作　　者：孙龙生 Sun Longsheng

机构地区：[1]麦可罗泰克(常州)产品服务有限公司,江苏常州213031

出　　处：《印制电路信息》2021年第3期46-49,共4页Printed Circuit Information

摘　　要：文章介绍了单孔阻值测量在高低温冲击试验中的优势,并总结了几点影响单孔阻值测量结果的因素和解决方案。This paper introduces the advantages of single-hole resistance measurement during thermal shock testing,and summarizes the factors affecting the results of single-hole resistance measurement and the solutions to address those effects.

关 键 词：单孔阻值测量 高低温冲击 四线测试 

分 类 号：TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]