磁敏感加权成像联合弥散加权成像诊断脑弥漫性轴索损伤的应用  

作　　者：浦智韬 李殿胜 金中高 王永锋 黄松 张兵 

机构地区：[1]浙江省宁波市镇海区人民医院,宁波315000 [2]浙江省宁波市第一医院

出　　处：《浙江创伤外科》2021年第2期343-345,共3页Zhejiang Journal of Traumatic Surgery

摘　　要：目的探讨磁敏感加权成像(SWI)联合弥散加权成像(DWI)诊断脑弥漫性轴索损伤(DAI)的应用价值。方法选取2018年2月至2020年2月本院收治的60例DAI患者,所有患者入院时均行MRI检查,比较MRI检查中T1WI、T2WI、FLAIR、SWI、DWI各序列检出的病灶率,并分析各序列病灶分布特点及信号特征。结果 DAI病灶的分布区域主要是基底节、胼胝体、丘脑、深部白质区、脑干、皮髓质交界区;SWI、DWI对各分布区域病灶的检出率均高于T1WI、T2WI、FLAIR(P<0.05);SWI对微出血性病灶的检出数高于DWI、FLAIR(P<0.05);DWI对水肿性病灶的检出数高于FLAIR、SWI(P<0.05)。结论 SWI、DWI对DAI病灶检测的敏感性均优于T1WI、T2WI、FLAIR,两者联用可进一步提升DAI检出率,但对于特殊病例还需结合常规MRI进行鉴别诊断。

关 键 词：磁敏感加权成像 弥散加权成像 脑弥漫性轴索损伤 MRI检查 颅脑损伤 

分 类 号：R651.1[医药卫生—外科学]