基于UVM的验证接口封装方法  

作　　者：范仁艳 支天 

机构地区：[1]南京航空航天大学 [2]中国科学院计算技术研究所

出　　处：《电子世界》2021年第7期142-143,共2页Electronics World

基　　金：国家自然科学基金(61532016)。

摘　　要：验证是集成电路设计过程中的重要环节,目的是为了发现设计缺陷。验证周期和验证对象的复杂性成正比。在保证验证质量的前提下,验证效率也是验证的重要指标。在基于UVM的传统验证环境中,driver、monitor、scoreboard等组件存在大量冗余重复代码,编码效率低,不易维护和管理,可复用性差,从而影响验证效率。针对此问题,在UVM环境框架基础之上,提出一种验证接口封装方法,达到一份代码多方复用的效果,提高验证效率。

关 键 词：接口封装 可复用性 验证环境 集成电路设计 编码效率 设计缺陷 维护和管理 框架基础 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]