基于LabVIEW的半导体激光器测试系统  

The semiconductor laser test system based on LabVIEW

作　　者：代华斌 秦占阳 王亚磊 

机构地区：[1]广东粤港澳大湾区硬科技创新研究院,广州510670

出　　处：《电子产品世界》2021年第5期67-70,共4页Electronic Engineering & Product World

基　　金：广东省科技计划项目(科技创新平台类)高水平创新研究院(2019B090909010)。

摘　　要：随着我国半导体激光器制造技术的逐渐成熟,激光器性能批量测试的需求也逐步提上日程。如何将国标半导体激光器测试方法中所涉及的测试内容进行软硬件实现,成为一家激光器制造企业所面临的切实需求。本文基于广东粤港澳大湾区硬科技创新研究院半导体激光器制造过程中的需求,提出了一整套用于半导体激光器自动测试的系统,并进行了软件及硬件实现。该系统严格参照GB-T 31359—2015半导体激光器测试方法,在完成半导体激光器PIV测试及光谱测试相关性能的同时,整机测试节拍可达30 s/个,实现了半导体激光器测试系统的自动化。

关 键 词：PIV测试 光谱测试 阈值电流 峰值功率 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]