迎接“智慧计量”与大数据时代第三届(上海)国际计量测试技术博览会召开  被引量:1

在线阅读下载全文

作  者:白雪洁 

机构地区:[1]不详

出  处:《中国计量》2021年第6期15-16,共2页China Metrology

摘  要:在“5•20世界计量日”到来之际,由中国计量科学研究院、上海市计量协会主办,上海高登商业展览有限公司承办的第三届中国(上海)国际计量测试技术博览会于5月18日至20日在上海市世博展览馆隆重召开。

关 键 词:计量测试技术 大数据时代 上海市计量协会 智慧计量 中国(上海) 博览会 商业展览 展览馆 

分 类 号:F203-28[经济管理—国民经济]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象