卫星充放电效应对典型星载电子设备影响的实验研究  被引量:4

Experimental study of the effects of spacecraft charging and discharging on typical satellite-borne electric instrument

在线阅读下载全文

作  者:李宏伟 韩建伟 蔡明辉 陶孟泽 寇彬 李超男 LI Hongwei;HAN Jianwei;CAI Minghui;TAO Mengze;KOU Bin;LI Chaonan(National Space Science Center,Chinese Academy of Science,Beijing 100190,China;School of Astronomy and Space Science,University of Chinese Academy of Science,Beijing 100049,China)

机构地区:[1]中国科学院国家空间科学中心,北京100190 [2]中国科学院大学天文与空间科学学院,北京100049

出  处:《航天器环境工程》2021年第3期370-374,共5页Spacecraft Environment Engineering

基  金:国家自然科学基金项目(编号:Y95034A040);国家国防科技工业局专项课题(编号:E01Z360101)。

摘  要:充放电效应是导致卫星在轨异常与故障的重要原因。除太阳电池阵二次放电外,充放电效应主要通过放电产生的电磁干扰造成设备异常和故障。文章选用典型的星载光学设备,实验模拟中高轨环境中电子作用在设备上产生的表面与深层充放电效应,获得了表面和深层充放电效应的基本特征,观测到放电导致设备工作异常的实验数据。实验结果不仅支持该典型星载光学设备的充放电效应防护设计,对于其他星载设备的充放电效应防护设计亦有一定借鉴意义。The satellite charging and discharging is an important cause of the abnormality and the failure of orbiting satellites.Apart from the secondary discharge of the solar cell array,the electromagnetic interference generated in the discharging process is the main cause of the equipment abnormality and failure.This paper studies experimentally the surface charging and deep charging and discharging effects related to the medium-and high-orbit environment for typical satellite-borne optical equipment,to obtain the basic characteristics of the surface and deep charging and discharging,related to the abnormality of the equipment.The results can not only help the charging and discharging protection design of this instrument,but also provide a certain reference for the similar protection design of other susceptible payloads.

关 键 词:卫星 电子设备 充放电效应 实验研究 

分 类 号:TM215.1[一般工业技术—材料科学与工程] V416.5[电气工程—电工理论与新技术]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象