集成电路自适应测试技术综述  

作　　者：华铭 

机构地区：[1]安庆师范大学计算机与信息学院

出　　处：《电子世界》2021年第11期53-54,共2页Electronics World

摘　　要：通过对测试向量重排序来提高测试效率,降低测试成本是集成电路测试领域的热点之一。本文综述了自适应测试技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向。1集成电路测试现状随着我国电子产业市场的不断扩大,中国对于芯片的需求日益增加,逐渐成为全球最大的市场。在国内的相关产业发展中,集成电路的设计业始终是我国相关产业中最具发展活力的领域,并且增长也最为迅速。

关 键 词：集成电路测试 重排序 自适应测试 测试成本 设计业 测试向量 测试效率 技术综述 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]