检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张令 史平怡 韩建林[1] Zhang Ling;Shi Pingyi;Han Jianlin(The 29th Research Institute of CETC,Chengdu Sichuan,610036)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第29研究所,四川成都610036
出 处:《电子测试》2021年第13期9-11,22,共4页Electronic Test
摘 要:针对微波产品性能和质量的需求,本文通过采用全自动化静态电阻测试方案,并开发了相应的软硬件测试系统。通过样件实测验证单件静态电阻测试时间从20.83分钟降低到5.4分钟,实现全自动化测试。该测试设备提高了生产效率,避免了漏测风险,提升了产品质量。In response to the performance and quality requirements of microwave products,this paper adopt a fully automated static resistance test program and develop a corresponding software and hardware test system.The test time of static resistance per product was reduced from 20.83 to 5.4 minutes through the actual test of the sample,realizing fully automated testing.The testing equipment improves production efficiency,avoids the risk of missed testing,and improves product quality.
分 类 号:TM934.1[电气工程—电力电子与电力传动]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.7