基于STM32的放大器参数及故障测试仪  

Universal Amplifier Characteristic Parameters And Fault Tester Base On STM32 Series IC

作　　者：罗骏[1] Luo Jun(The 34th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Guilin Guangxi,541004)

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第三十四研究所,广西桂林541004

出　　处：《电子测试》2021年第13期19-22,共4页Electronic Test

摘　　要：通过设计对运算放大器做一系列自动化测试,获取通用放大器特性参数及进行故障测试,能够测试通用性放大器的基本参数和特性、测试特定的一些故障,对放大器在电子领域、功放领域都有着很大的应用辅助。This paper has done a series of automatic tests in the study of operational amplifier,universal amplifier characteristic parameters and fault tester,which can test the basic parameters and characteristics of universal amplifier,and can also test some specific faults,which will be of great help to the amplifier in the field of electronics and power amplifier in the future.

关 键 词：运算放大器 电路特性测试 自动化测 

分 类 号：TN722.77[电子电信—电路与系统]