检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]南京京东方显示技术有限公司
出 处:《电子世界》2021年第13期82-85,共4页Electronics World
摘 要:TFT-LCD行业成盒工艺中,液晶需要灌注在CF&TFT玻璃面板中间,业内主流的灌注方法为滴下(Drop)式或者喷涂(IJP)式。而Mura类不良是TFT-LCD行业常见不良,已经发现可参考的Mura类型有重力Mura、Rubbing Mura、振动Mura、Touch Mura等。Mura不良在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能。DropMura不良的形成与液晶滴下时离子含量过高有关。而在本次调查中,离子污染的原因是LC Filter材质的离子含量过高,当生产用的液晶流经此类LC Filter时,液晶被Filter材质污染,离子含量也升高。
关 键 词:Mura 制作流程 离子含量 离子污染 玻璃面板 液晶滴下 灌注方法 FILTER
分 类 号:TN8[电子电信—信息与通信工程]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.7