基于NX二次开发的特征识别与提取  

作　　者：于洋 

机构地区：[1]长春理工大学机电工程学院

出　　处：《电子世界》2021年第13期200-201,共2页Electronics World

摘　　要：本文论述了NX二次开发的方法,开发了与NX界面一体化的特征识别与提取功能模块。通过调用NX Open API函数,实现了箱体零件模型中几何信息的获取;预先建立自定义的加工特征映射库,引入解决子图同构问题的VF2算法,实现了箱体零件模型中特征的识别与提取。最后,通过实例验证了此功能模块的有效性。

关 键 词：API函数 子图同构 几何信息 箱体零件 OPEN 加工特征 功能模块 映射库 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]