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作 者:余春荣[1] 张连平[1] 赵建龙[1] 姚洪敏 王怀胜[1] 何伟波[1] YU Chun-rong;ZHANG Lian-ping;ZHAO Jian-long;YAO Hong-min;WANG Huai-sheng;HE Wei-bo(Instituteof Materials,China Academy of Engineering Physics,Jiangyou Sichuan 621907,China)
机构地区:[1]中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907
出 处:《核电子学与探测技术》2021年第1期68-71,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology
基 金:国家自然科学基金(11805168)资助。
摘 要:介绍了波长色散型X射线荧光光谱法(WavelengthDispersiveX-RayFluorescence,WDXRF)测定U-Mo合金中Mo含量的分析方法。本方法用HNO3溶解样品,制成滤纸片试样,采用WDXRF光谱仪测定U-Mo合金试样的Mo含量。实验结果表明:本方法适用于Mo含量为1%-6%的U-Mo合金样品的Mo含量测定;对Mo含量为2%的样品,测量结果的相对标准偏差为0.3%;Mo含量为6%的样品,测量结果的相对标准偏差为0.2%。A method of Mo contents in U-Mo alloy by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy is introduced.Dissolved by HNO3,coated on filter paper and prepared the filter paper samples,the U-Mo alloy samples are determined by WDXRF.The results show that this method is suit with determining the U-Mo alloy samples at the range of 1%-6%Mo content.The precision of this method is 0.3%RSD for 2%Mo samples and 0.2%RSD for 6%Mo samples.
关 键 词:U-MO合金 波长色散X射线荧光光谱分析 Mo含量
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