HAST在塑封微电路评价中的应用  

作　　者：阳辉 钟征宇 黄文铮 杜忠磊 

机构地区：[1]北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司,北京100089

出　　处：《光源与照明》2021年第3期96-97,共2页Lamps & Lighting

摘　　要：湿热环境对塑封微电路(PEM)的可靠性影响较大,而相关标准均给出了PEM的加偏置高加速应力试验(HAST)方法的相关要求。基于此,文章介绍了HAST模型及其对PEM失效模式、失效机理的影响,以及加速因子计算和偏置电压施加准则。

关 键 词：塑封微电路 高加速应力试验 加速因子 失效模式 失效机理 偏置电压 

分 类 号：TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]