检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王茹楠 杜波 薛静 庞月婵 WANG Ru-nan;DU Bo;XUE Jing;PANG Yue-chan(Beijing Vacuum Electronics Research Institute,Beijing 100015,China;Science and Technology on Electronic Information Control Laboratory,Chengdu 610036,China)
机构地区:[1]北京真空电子技术研究所,北京100015 [2]电子信息控制重点实验室,四川成都610036
出 处:《真空电子技术》2021年第5期64-67,72,共5页Vacuum Electronics
摘 要:本文通过对宽带行波管某主要研制生产单位2013年至2019年间来获取的产品故障信息进行深入统计和分析,归纳了宽带行波管出现概率较高的故障模式,分析了故障出现的原因并提出了相对应的解决措施。通过改进,各类故障模式出现的概率均明显下降,取得了良好的效果,也为后续宽带行波管可靠性的进一步提升提供了基础。Through statistics and analysis of the failure information obtained by a main manufacturer of broadband travelling-wave tube(TWT)from 2013 to 2019,the failure modes of broadband TWTs with high probability are summarized.The causes of the failures are analyzed and corresponding improving measures are proposed.Through the improvement,the probability of various failure modes is significantly reduced,and good results are achieved,which also provides a basis for further reliability improvement of the follow-up broadband TWTs.
分 类 号:TN124[电子电信—物理电子学]
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