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作 者:吴志芸[1] 王德军[1] 赵仲清[1] Wu Zhiyun;Wang Dejun;Zhao Zhongqing(Department of Chemistry,Jilin University,Changchun)
机构地区:[1]吉林大学化学系
出 处:《高等学校化学学报》1988年第8期834-835,共2页Chemical Journal of Chinese Universities
基 金:国家自然科学基金。
摘 要:表面光电压法早巳用于研究半导体能带分布及表面态,但尚未见用于研究催化作用的报道。我们在自装的光电压谱仪上,对结构相似的系列稀土硅钨酸催化剂进行了研究,对其表面电荷(表面能级)的微小差异在催化反应中的作用有了新的认识。We set up a photovoltage spectrometer suitable for studing catalysts and carried out an investigation of a series of bis- (silico-11-tungstic) -rare earth heter-opoly acids called for RE (SiW)_(2). A set of typical SPV spectra of RE(SiW_(2)) are given. The threshold wavelength (TW) producing surface photovoltage varies with the displacement of RE element, and is a vaiuable information for studing catalyst.
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