基于LK8810平台的数字芯片性能测试  

Test on Performance of Digital Chip Based on LK8810 Platform

作　　者：余蓓敏[1] YU Beimin(Department of Electronic Engineering,Anhui Vocational College of Electronic Information,Bengbu 233000,China)

机构地区：[1]安徽电子信息职业技术学院电子工程学院,安徽蚌埠233000

出　　处：《新乡学院学报》2021年第9期48-50,54,共4页Journal of Xinxiang University

基　　金：安徽省省级线下课程(2020kfkc065);安徽省高校自然科学研究项目(KJ2019A1066);安徽电子信息职业技术学院院级教科研项目(2021AHDZZK01)。

摘　　要：为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进行系统化测试,对SN74LS08芯片的功能、关键参数进行了测试和研究,通过软硬件联调,结合芯片技术参数标准,提高测试结果的精准性。In order to improve the reliability of chip performance, a test method of digital chip performance based on LK8810 platform is proposed. Based on lk8810 testing machine, this paper systematically tests the typical digital chips on the platform, tests and studies the functions and key parameters of sn74 ls08 chip, and improves the accuracy of test results through joint debugging of software and hardware, combined with chip technical parameter standards.

关 键 词：LK8810平台 SN74LS08 芯片测试技术 

分 类 号：TP122[自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]