基于HAZOPkit分析软件的SIL验证实例分析  

作　　者：施志荣 

机构地区：[1]神华工程技术有限公司安徽分公司,安徽合肥230009

出　　处：《化工安全与环境》2021年第41期2-5,10,共5页Chemical Safety & Environment

摘　　要：基于HAZOPk it分析软件,对安徽某企业氯化危险工艺的SIF回路进行了SIL验证,研究表明,一个SIF回路的SIL等级,是由SIF回路中的触发机构、逻辑处理器和执行机构3个单元的PFD共同决定的,并给出了不同测试覆盖率和不同测试间隔下的要求时的平均失效概率。对验证结果不满足SIL等级要求的SIF回路,可以调整优化部分参数,例如缩短检验测试间隔、提高检验测试覆盖率等以满足定级要求;优化后的参数,不仅可以指导SIF的设计,也可为SIS系统未来的运行测试、校验和维护提供依据。

关 键 词：SIF回路 SIL验证 触发机构 逻辑处理器 测试覆盖率 测试间隔 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]