多路电子开关AD8184功能测试装置设计  

作　　者：梁坚 周燕 王茜 李晓斌 左进鹏 

机构地区：[1]北方夜视科技研究院集团昆明北方红外技术股份有限公司

出　　处：《云光技术》2021年第2期55-61,共7页

摘　　要：为了满足多路电子开关AD8184功能测试的需要,设计了芯片AD8184测试装置,方案是将信号产生电路与其他功能电路设计在一起,组成一个测试装置。由于自带信号产生电路和通道显示电路,可以节省信号发生器等昂贵设备,节约测试成本,同时“可视化操作”设计也提高了测试效率。

关 键 词：AD8184 信号产生电路 通道显示电路 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]