检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:黄艳萍 Huang Yanping(Center of Engineering Experimental Teaching,School of Chemical Engineering,Sichuan University,Chengdu 610064,China)
机构地区:[1]四川大学化学工程学院工程实验教学中心,成都610064
出 处:《分析仪器》2021年第6期122-124,共3页Analytical Instrumentation
摘 要:JEM-F200场发射透射电子显微镜是贵重的大型精密设备,为保障电镜的正常运行,需要对电镜进行定期维护和检查。本文简要介绍了JEM-F200电镜的主要特点、日常维护以及常见的故障的解决办法供参考借鉴。JEM-F200 field emission transmission electron microscope(FETEM)is a valuable large precision equipment.In order to ensure the normal operation of the FETEM,it is necessary to maintain and inspect the TEM regularly.This paper briefly introduces the main features,routine maintenance and common troubleshooting of JEM-F200 transmission electron microscope for reference.
分 类 号:TN16[电子电信—物理电子学]
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