检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国兵器工业第214研究所
出 处:《电子世界》2021年第21期123-125,共3页Electronics World
摘 要:我所承制的某一类型电路,测试过程相似,功能参数相近,为提高电路测试效率,有必要研制该类电路的通用自动测试平台。本文基于自动测试系统的设计思想和该类电路的测试要求,主要通过并联自动测试装置的设计来完成该类电路通用测试平台制作。我所承制的某一类系列电路传统测试方法是使用通用仪器检测设备手动完成,目前存在测试时间长、检测效率低、无法联测的问题,由于该产品每批次的数量多,目前测试设备不能满足研制和生产的需求。因此,需要制作专用的自动测试装置,来提高测试效率,以满足研制和生产的需求。
关 键 词:通用仪器 自动测试系统 自动测试装置 通用测试平台 检测设备 通用自动测试平台 测试设备 电路测试
分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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