检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:殷脂 YIN Zhi(School of Computer and Information Engineering,Shanghai University of Electric Power,Shanghai 200090,China)
机构地区:[1]上海电力大学计算机科学与技术学院,上海200090
出 处:《上海电力大学学报》2021年第6期573-576,共4页Journal of Shanghai University of Electric Power
摘 要:根据PIE技术基本原型,将软件系统中的对象抽象为PIE技术中的位置概念。以此作为模型的考察粒度,提出了扩展PIE模型。结合随机图理论,建立了基于扩展PIE的软件可测试性计算模型。A new computation model for software testability by the extended PIE technique is put forward.PIE model is a basic dynamical computation method of software testability.This article considers object in software system as basic location of testability,changes research granularity in basic PIE model,and explains extended PIE model;It also combines random graph theory,and builds extended PIE based software testability estimating model.
分 类 号:TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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