检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:黄银青 汪宗华 丁丽成 班友根 鲍官军 HUANG Yinqing;WANG Zonghua;DING Licheng;BanYougen;Baoguanjun(Anhui Mingzhi Technology Co.,Ltd.,Tongling 244000,China;Tongling Wenyi Sanjia Tech.Co.,Ltd.,Tongling 244000,China)
机构地区:[1]安徽明致科技有限公司,安徽铜陵244000 [2]铜陵文一三佳科技股份有限公司,安徽铜陵244000
出 处:《电子工业专用设备》2021年第6期49-50,68,共3页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:分析了DFN/QFN产品溢料缺陷产生的原因,并针对溢料缺陷提出了几种相应的纠正措施、改善解决方案,指出应从模具关键尺寸配合间隙完善设计。The causes of overflow defects in DFN/OFN products are analyzed in this paper,and several corresponding corrective measures and improvement solutions are put forward for overflow defects.It is pointed out that the design should be improved from the key dimensions and fit clearance of the die.
关 键 词:DFN/QFN模具溢料 改善及纠正方案 尺寸间隙
分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:18.219.61.156