半导体三极管的失效分析与可靠性研究  

Failure analysis and reliability research of semiconductor transistor

作　　者：王少辉 项永金 

机构地区：[1]格力电器(合肥)有限公司,合肥230088

出　　处：《电子产品世界》2022年第1期33-36,共4页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：三极管在电路中主要起放大和开关作用,产品在实际应用中失效多单,经分析主要故障为短路与开路失效。通过X光、CT扫描、开封等方法分析研究,发现此故障为焊接不良、塌丝导致。对全流程包含设备的生产环节进行整改,并通过优化检测方法、增加显微镜检查以及X光全检等检测设备,提高产品可靠性。

关 键 词：虚焊 硅碎 塌丝 显微镜 X光透视 测试方法 

分 类 号：TN32[电子电信—物理电子学] TM925.12[电气工程—电力电子与电力传动]