高可靠元器件特征结构识别与表征技术  

作　　者：龚欣[1] 李婷[1] 孙佳佳[1] 陈旭光 倪晓亮[1] 

机构地区：[1]中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心,北京100094

出　　处：《电子元器件与信息技术》2021年第11期21-22,共2页Electronic Component and Information Technology

摘　　要：开展高可靠元器件特征结构识别与表征技术研究,将高可靠元器件特征结构进行识别并提取,建立高可靠元器件特征结构数据库,集成派生新研元器件的设计方案和评价判据,解决国产元器件尤其是自主研发新型元器件普遍存在的“设计及工艺能力有限、设计参考缺失、可靠性评价缺乏权威性”的技术问题。

关 键 词：高可靠 元器件 特征结构 

分 类 号：TN3[电子电信—物理电子学] TN4