检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:来海新 王艳霞 LAI Haixin;WANG Yanxia
机构地区:[1]北京市机电产品标准质量监测中心
出 处:《计量与测试技术》2022年第2期44-45,共2页Metrology & Measurement Technique
摘 要:对于测量范围在300mm及以上大尺寸外径千分尺,在检定测砧与测微螺杆测量面的相对偏移操作过程中,由于现有JQJ-1型千分尺检定装置受到自重、尺寸等限制,只能检定测量范围较小的外径千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移项目。本文利用废旧外径千分尺测微头部分,制作了精密式可调支撑架,配合杠杆百分表或百分表来检定该项目,提高了工作效率和准确度。For large-scale micrometers with measuring range of 300 mm and above,in the relative deviation operation process of the measuring surface of the verification anvil and the micrometer screw,the existing JQJ-1 micrometer verification device is JQJ-1 micrometer verification device,only the relative deviation items of the measuring surface of anvil and micrometer screw with small measuring range can be verified.In this paper,the use of waste diameter micrometer head part,the production of precision adjustable support frame,with lever percentage meter or percentage meter to verify the project,improve work efficiency and accuracy.
分 类 号:TG814[金属学及工艺—公差测量技术]
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