基于J750的ARINC429总线协议芯片测试技术研究  

作　　者：宋尚升 龙永佳[1] 

机构地区：[1]中国空空导弹研究院,河南洛阳471000

出　　处：《电子制作》2022年第4期26-29,共4页Practical Electronics

摘　　要：本文对ARINC429数据总线作了简要的概述,具体介绍了ARINC429数据字结构和电平特点,同时以DEI1016A芯片为例,详细介绍了该芯片功能,并基于美国泰瑞达J750测试系统,给出了DEI1016A芯片的测试解决方案。

关 键 词：ARINC429数据总线 双极归零码 控制字 数据字 MCG mode 

分 类 号：V243[航空宇航科学与技术—飞行器设计] TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]