非球面面形检测系统  

作　　者：肖晨 

机构地区：[1]不详

出　　处：《西安工业大学学报》2022年第1期34-34,共1页Journal of Xi’an Technological University

摘　　要：由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非球面面形检测系统,不仅可以解决光学领域的非球面测量难题,而且能够节约大量的外汇资源。目前样机已经开发,作为精密光学测量系统,生产规模不大,但对社会的贡献明显。

关 键 词：非球面面形 横向剪切干涉 光学非球面 干涉条纹图像 检测系统 光学测量系统 非球面测量 西安工业大学 

分 类 号：TH74[机械工程—光学工程]