一种端子具有刮擦功能的射频测试座的设计  

Design of a RF Test Socket with Scraping Function for Terminal

作　　者：高辉 GAO Hui

机构地区：[1]苏州中兴联精密工业有限公司,江苏苏州215151

出　　处：《机电元件》2022年第2期14-17,共4页Electromechanical Components

摘　　要：端子接触表面的异物污染在连接器的生产和使用过程中在所难免,但异物的存在会影响连接器的接触性能,对于RF射频连接器则会影响其导通性能以及耦合功率。本文介绍了一款端子具有刮擦功能的RF射频测试座,采用双向弹性端子的设计,通过实验测试以及实际使用验证,可有效去除接触表面的异物。据此提出了各种超小型、高精密连接器产品在结构设计时必须要考量端子刮擦功能的建议。

关 键 词：刮擦距离 射频测试座 异物 连接器 

分 类 号：TN784[电子电信—电路与系统]