新型二极管参数测试仪性能分析  

Performance Analysis of New Diode Parameter Tester

作　　者：唐世清 罗斯 雷新华 陈纪友 邓自强 TANG Shiqing;LUO Si;LEI Xinhua;CHEN Jiyou;DENG Ziqiang(College of Physics and Electronic Engineering,Hengyang Normal University,421010,Hengyang,Hunan,PRC)

机构地区：[1]衡阳师范学院物理与电子工程学院,湖南衡阳421010

出　　处：《江西科学》2022年第2期323-326,共4页Jiangxi Science

基　　金：湖南省普通高校教学改革研究项目(湘教通[2019]291号-649);湖南省教育科学“十三五”规划项目(XJK19CGD064);湖南省学位与研究生教改项目(2021JGYB202)。

摘　　要：二极管是一种十分常见的半导体器件,其对整个电子行业的发展起着至关重要的作用。二极管的参数准确与否直接关系着整个电路系统的性能,因此,对二极管的参数测试十分有必要。目前市场上对二极管参数测试的仪器较少,且性能参差不齐。对基于STM32的新型二极管测试参数仪进行性能分析,将其测试结果与传统伏安法测试结果对比,结果显示新型二极管参数测试仪能对二极管的参数测量有着很高的准确度。该新型二极管参数测试仪有广阔的应用前景。Diode is a very common semiconductor device,which plays a vital role in the development of the entire electronics industry.The accuracy of diode parameters is directly related to the performance of the entire circuit system.Therefore,it is very necessary to test diode parameters.At present,there are few instruments for diode parameter testing on the market,and the performance is uneven.The performance of the diode parameter tester is analyzed,and the test results are compared with the traditional voltammetry test results.The results show that the new diode parameter tester can measure diode parameters with high accuracy.The new diode parameter tester has a wide range of application prospects.

关 键 词：二极管 现代电子技术 性能测试 伏安特性 

分 类 号：TN06[电子电信—物理电子学]