带SPI接口的数字电位器测试方法研究  

Research on a Way of Testing Digital Potentiometer with SPI Interface

作　　者：赵桦[1] Zhao Hua(China Electronic Technology Group Corporation,No.58 Research Institute,Jiangsu Wuxi 214035)

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035

出　　处：《电子质量》2022年第4期22-24,共3页Electronics Quality

摘　　要：数字电位器亦称数控可编程电阻器,是一种代替传统机械电位器(模拟电位器)的新型CMOS数字、模拟混合信号处理的集成电路,它提供了两种工作模式。自动测试系统是集成电路大规模生产测试环节必需的系统设备,利用自动测试系统可以实现测试数字电位器在不同工作模式下的特性参数,实现与传统的测试方式相比,更加快速准确地实现数字电位器特性参数的测试。Digital potentiometer(programmable potentiometer) is a substitution for traditional mechanical potentiometer(analog potentiometer) which is a new signal processor of CMOS digital and analog signal. It provides two ways of work. ATE is an essential part of IC mass production. Using ATE, most DC and AC characteristics of digital potentiometer can be tested. ATE testing is quicker and more convenient comparing to traditional testing method.

关 键 词：SPI接口 测试技术 自动测试系统 数字电位器 

分 类 号：TM547[电气工程—电器] TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]