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作 者:裴雪松 张晓娜[1] 葛麟[1] 董鹏 安宁[2] 张海武 李晖[1] 张泽[3] PEI Xue-song;ZHANG Xiao-na;GE Lin;DONG Peng;AN Ning;ZHANG Hai-wu;LI Hui;ZHANG Ze(Institute of Microstructure and Property of Advanced Materials,Beijing University of Technology,Beijing 100124;Beijing Beiye Functional Materials Corporation,Beijing 100192;Department of Material Science and Engineering,Zhejiang University,Hangzhou Zhejiang 310027,China)
机构地区:[1]北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124 [2]北京北冶功能材料有限公司,北京100192 [3]浙江大学电镜中心,材料科学与工程学院,浙江杭州310027
出 处:《电子显微学报》2022年第2期117-122,共6页Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基 金:国家自然科学基金资助项目(No.11874077)。
摘 要:本文利用球差校正透射电镜FEI Titan G2在原子尺度下研究了Ni基高温合金中析出μ相内(11^(-)2)_(μ)及(1^(-)11)_(μ)面缺陷的结构,对层错的结构特征及形成原因进行了分析。HAADF-STEM成像结果显示,μ相非基面缺陷的出现与μ相的生长特性相关,产生于(001)_(μ)面上不同结构单元相接导致的结构变化。这种形成(001)_(μ)层错从而引起其他类型面缺陷出现的现象丰富了对拓扑密堆相中缺陷产生原因的认识。In this paper,the atomic-resolution high-angle annular dark-field scanning(HAADF-STEM) imaging technique has been applied to investigate the microstructure of (11^(-)2)_(μ) and (1^(-)11)_(μ) planar faults of the precipitated μ phase in Ni-Cr-Mo superalloy.The HAADF-STEM imaging shows that the appearance of the non-basal planar defects is related to the growth characteristics of μ phase,which results from the structural changes caused by the connection of different structural units on the(001)_(μ)plane.This phenomenon of the formation of the non-basal planar defects has enriched the understanding of the causes of defects in the topological close-packed phase.
关 键 词:Ni-Mo-Cr高温合金 HAADF-STEM Μ相 非基面缺陷
分 类 号:TB31[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.215.3[金属学及工艺—物理冶金]
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