装备电子部件可靠贮存寿命统计预测方法研究  

作　　者：王新平[1] 李荣[2] 王永东 王广昊 

机构地区：[1]中国人民解放军第五七一五工厂,河南洛阳471000 [2]中国人民解放军93128部队,北京100843 [3]中国人民解放军93131部队,北京100843

出　　处：《科技创新与应用》2022年第16期136-139,共4页Technology Innovation and Application

摘　　要：文章介绍采用标准寿命表法进行装备电子部件贮存可靠性统计,按照指数分布或威布尔分布进行拟合,进行线性相关系数的计算,开展拟合优度检验和异常值检验等工作,确定产品寿命分布函数,进而预测产品未来的贮存可靠度和可靠贮存寿命的方法。This paper introduces the standard life table method for storage reliability statistics of equipment electronic components,implements the fitting according to exponential distribution or Weibull distribution,calculates linear correlation coefficient,and carries out goodness-of-fit test and abnormal value test.Thus,the paper puts forward the methods of determining the product life distribution function and predicting the future storage reliability and reliable storage life of the product.

关 键 词：电子部件 贮存可靠性 统计 分布函数 预测 可靠贮存寿命 

分 类 号：TJ06[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]