正切平方量子阱中的非线性光学折射率  

Nonlinear Optical Refractive Index in Tangent-square Quantum Well

作　　者：赵庄 李学超 张粮成 段一名 ZHAO Zhuang;LI Xuechao;ZHANG Liangcheng;DUAN Yiming(College of Mechanics and Optoelectronic Physics,Anhui University of Science and Technology,Anhui Huainan 232001,China)

机构地区：[1]安徽理工大学力学与光电物理学院,安徽淮南232001

出　　处：《河北师范大学学报（自然科学版）》2022年第4期352-357,共6页Journal of Hebei Normal University：Natural Science

基　　金：国家自然科学基金(61775087,11674312,51702003);安徽省自然科学基金(1508085QF140,1808085ME130);安徽省高校优秀青年人才支持计划(gxyqZD2018039)。

摘　　要：从理论上研究了正切平方量子阱(QWs)在不同温度、流体静压作用下非线性光学折射率的变化.在有效质量近似的框架下,通过求解薛定谔方程得到本征函数和能量本征值.利用密度矩阵理论和迭代方法,得到了非线性光学折射率变化(RIC)的解析表达式.计算结果表明,流体静压、温度、电势和QWs的直径对RIC有很大的影响,所得结果可以为研究正切平方量子阱的光学折射率变化提供必要的理论依据.The nonlinear optical refractive index changes of tangent square quantum wells(QWs)under different temperatures and hydrostatic pressure are studiedtheoretically.Based on effective mass approximation,the eigenfunction and energy eigenvalue are obtained by solving the Schrodinger equation.By using the density matrix theory and iterative method,the analytical expression of nonlinear optical refractive index change(RIC)is obtained.The calculation results show that the hydrostatic pressure,temperature,electric potential and the diameter of QWs have a significant influence on the RIC,which provides a necessary theoretical basis for studying the optical refractive index of the tangent-square quantum well.

关 键 词：量子阱 流体静压 折射率变化 本征函数 密度矩阵理论 

分 类 号：O437.1[机械工程—光学工程]