检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《单片机与嵌入式系统应用》2022年第7期78-78,共1页Microcontrollers & Embedded Systems
摘 要:全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达宣布,分别与合肥工业大学和福州大学建立了集成电路自动测试大学项目,基于Mag-num V和测试机J750系列建立的课程体系已正式开课。泰瑞达计划将联合中国的更多高校开设相关课程,加大力度支持中国培养自己的半导体测试人才,为中国半导体行业的快速、健康的发展贡献更多的推动力。集成电路自动测试处于集成电路产业链的下游,自动测试设备(ATE)提供的测试环节贯穿了整个集成电路的产业链,是提高集成电路良品率的关键工序。科技的日新月异要求芯片功能越来越强大,而随之带来的是集成电路的复杂程度呈指数级的快速增长,这是芯片测试领域所面临的极大挑战。
关 键 词:合肥工业大学 集成电路测试 半导体测试 福州大学 良品率 测试机 关键工序 产业链
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
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